兆欧表_硬度计_转速表_测厚仪_电阻测试仪-君达仪器

　　

日本日置电容测试仪HIOKI 3504-50的性能：

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

• 高速测量2ms
• 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
• 对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能
• 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
• 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
• 查出全机测量中的接触错误，提高成品率

输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件

日本日置电容测试仪HIOKI 3504-50的基本参数

测量参数	Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
测量范围	C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000
基本确度	（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数
测量频率	120Hz, 1kHz
测量信号电平	恒定电压模式: 100mV (仅限3504-60) 500 mV, 1 V 测量范围: CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻	5Ω（开路端子电压模式,上述测量范围以外）
显示	发光二级管 （6行表示，满量程计算器根据量程而定）
测量时间	典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能	4端子控制检测功能（仅限3504-60），BIN测量（除去3504-40），触发同时输出，储存测量条件，比较测量值的场强，平均值功能，Low-C抑制功能，鸣叫功能，控制用输出入（EXT.I/O），RS-232C界面（标准装备），GP-IB接口（3504-40除外）
电源	AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大110VA
体积及重量	260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件	电源线×1，预备电源保险丝×1，接地适配器×1

(不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头)