绝缘电阻和泄露电流
在测试过程中，在按下测试仪开关时会产生高压直流电，会有少量电流（微安）流过导体和绝缘材料。电流的多少取决于外加的电压，设备的电容，总电阻和材料温度。对于固定电压，电流越大，电阻越小(E=IR, R=E/I)。总电阻等于导体内部电阻（阻值小）之和加上绝缘电阻的兆欧。
绝缘电阻测试仪显示3个支流的绝缘电阻值。
泄露电流 (IL)
通过绝缘体，导体或地线的电流很少（微安）。如果绝缘劣化会出现电流增加或吸收电流消失后有电流增加。（参见：图1）由于它相当稳定，对于测试绝缘电阻来说，这是最重要的电流。

电容充电泄露电流(IC)
当电缆管道中有两条或更多电线时，它们就像一个电容。由于电容效应，泄漏电流会流过导体绝缘层。电流只持续几秒钟，当完全达到测试电压时外加直流电压消失。对于低电容设备，电容电流高于导体泄漏电流。通常在我们开始查看和记录数据时消失。因为这种情况，在记录之前，要让数据保持。另一方面，当检测高电容设备时，电容充电泄漏电流会持续很长时间。
极化吸收电泄露电流(IC)
绝缘材料中的极化的分子会产生吸收电流。对于低电容的设备，电流在开始的几秒钟大，然后慢慢减少到接近0.。当测试高电容设备，湿的或电阻破坏的设备吸收电流会持续很长时间不减少。