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利用电子天平进行密度测定

时间:2009-02-23 11:44来源:梅特勒托利多 作者:梅特勒 点击:
  

利用电子天平进行密度测定

 
使用浮力法进行密度测定
在许多领域使用密度测定来辨别产品或材料的某些特性。 密度测定应用不仅为数众多,而且常常与许多具体要求有关。梅特勒-托利多公司提供了各种硬件和软件选件,通过使用比重测定法来测定密度。

密度测定借助于阿基米德原理 (浮力法)来实现的, 这也是天平的密度测定组件使用的方法。阿基米德原理规定:浸在液体中的物体会明显的失重,失重量等于物体排开的液体的重量。这种方法可以测定固体、粘性和粘稠物质以及液体的密度。
天平的密度测定组件
 
 


 
天平的密度测定组件使测定过程的两个步骤变的简捷而有效。

该密度组件包含:

  • 用于液体玻璃容器,容器支架
  • 用于漂浮或浸没固体的无腐蚀支架等等。

通过简单地更换用于密度组件的XPXS天平的秤盘,即可立即测定固体和液体的密度。密度测定组件可以测定固体、多孔固体, 粘性和粘稠物质以及液体的密度。

您可以利用XPXS天平的软件计算和记录密度值。您可以将测试结果传送到计算机,或者用打印机进行打印输出。在任何一种情况下, 浮力法测定密度比较简单,并可以应用在普通天平上。

 
集成密度软件解决方案

XPXS天平具有内置密度测定应用程序,可以用来测定固体、多孔样品和粘稠物质以及液体的密度。

  • 能以0.1%的精度输入温度
  • 样品标识
  • 输入液体密度测量块的体积
  • 随温度变化而变化的乙醇和水的集成密度表
  • 7种语言 en de fr it es ja ru)进行记录
  • 天平显示屏上清晰的菜单指导
  • 对每种测量方法的独立统计
  • 快速、简单、方便地处理
  • 再现性高达0.001 g/cm3

 

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